![ckp-1](/images/Image/imgCKP/ckp-1.jpg) |
Cканирующий рентгенофлуоресцентный спектрометр
S4 Pioneer (Bruker AXS, Германия)
|
![ckp-2](/images/Image/imgCKP/ckp-2.jpg) |
Рентгеноспектральный электронно-зондовый
микроанализатор JXA8200
|
![ckp-3](/images/Image/imgCKP/ckp-3.jpg) |
Автодифрактометр D8ADVANCE фирмы BRUKER AXS
|
![ckp-4](/images/Image/imgCKP/ckp-4.jpg) |
Масс-спектрометр высокого разрешения с двойной
фокусировкой для высокоточного элементного анализа
ICP/HRMS ELEMENT 2
|
![ckp-5](/images/Image/imgCKP/ckp-5.jpg) |
Комплекс для микротермометрического изучения
флюидных и расплавных включений в минералах
горных пород
|
![ckp-6](/images/Image/imgCKP/ckp-6.jpg) |
Комплект дробильно-стирательного
оборудования (фирмы FRITSCH, Германия)
|
![ckp-7](/images/Image/imgCKP/ckp-7.jpg) |
Блок чистых химических помещений |
![ckp-8](/images/Image/imgCKP/ckp-8.jpg) |
Оптический эмиссионный спектрометр с индуктивно
связанной плазмой iCAP 6300 Duo (ИСП-ОЭ
спектрометр iCAP 6300 Duo)
|
![ckp-9](/images/Image/imgCKP/ckp-9.jpg) |
Спектральный комплекс для дугового атомно-
эмиссионного анализа порошковых образцов по
способу вдувания-просыпки и сцинтилляционного
атомно-эмиссионного анализа с высоким
временным разрешением
|
![ckp-10](/images/Image/imgCKP/ckp-10.jpg) |
Спектральный комплекс для дугового атомно-
эмиссионного анализа порошковых образцов
по способу испарения из канала электрода
|
![ckp-11](/images/Image/imgCKP/ckp-11.jpg) |
Газовый хроматограф HP 5890A Series II с
электронозахватным детектором
|
![ckp-12](/images/Image/imgCKP/ckp-12.jpg) |
Спектрофотометр атомно - абсорбционный AAnalyst
модель 800 (фирмы “Perkin Elmer LLC”) с
электротермическим атомизатором поперечного
нагрева THGA и пламенным атомизатором
|
![ckp-13](/images/Image/imgCKP/ckp-13.jpg) |
Микроскоп «Альтами» металлографический
инвертированный
|
![ckp-14](/images/Image/imgCKP/ckp-14.jpg) |
Сканирующий зондовый мультимикроскоп СММ-2000 с
атомно-силовым столиком (Россия)
|
![ckp-15](/images/Image/imgCKP/ckp-15.jpg) |
Кабины для гидротермальных установок и стойки
управления печами
|
![ckp-16](/images/Image/imgCKP/ckp-16.jpg) |
Анализатор удельной поверхности дисперсных и
пористых материалов «Сорбтометр-М»
|
![ckp-17](/images/Image/imgCKP/ckp-17.jpg) |
Комплекс установок для выращивания кристаллов
|
![ckp-18](/images/Image/imgCKP/ckp-18.jpg) |
Комплекс оптических спектрометров
Perkin-Elmer L950 и LS55
|
![ckp-19](/images/Image/imgCKP/ckp-19.jpg) |
«РОМЕТР» - автоматизированный измеритель удельного
электрического сопротивления контактным 4-х зондовым
методом (слева) и «ТАУМЕТР-2М»
- автоматизированный измеритель времени жизни
неравновесных носителей заряда бесконтактным СВЧ
- резонаторным методом (справа)
|
![ckp-20](/images/Image/imgCKP/ckp-20.jpg) |
Экспериментальная линейка для получения
мультикремния для солнечной энергетики
|
![ckp-21](/images/Image/imgCKP/ckp-21.jpg) |
Многоколлекторный масс-спектрометр с индуктивно
связанной плазмой MC ICP NEPTUNE plus
|
![ckp-22](/images/Image/imgCKP/ckp-22.jpg) |
Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-
связанной плазмой ICP-MS NexION 300D в сочетании
с системой лазерной абляции New Wave UP 213
(New Wave Research, США)
|
![Tescan MIRA 3 LMH](/images/Image/imgCKP/Tescan_MIRA_3_LMH.jpg) |
Сканирующий электронный микроскоп
TESCAN MIRA3 LMH
|