Спектральный комплекс для дугового атомно-эмиссионного анализа порошковых образцов по способу вдувания-просыпки (1) и сцинтилляционного атомно-эмиссионного анализа с высоким временным разрешением (2)

Эксплуатируется в рамках ЦКП «Изотопно-геохимических исследований» ИГХ СО РАН

Установлен в лаборатории оптического спектрального анализа и стандартных образцов в 2006 (1) и в 2009 (2) годах. 
Заведующий лабораторией д.т.н. Александр Львович Финкельштейн, 
тел.: (3952) 42-95-79

Область применения:
получение информации о содержании элементов-примесей твёрдых природных и техногенных сред (горные породы, руды, донные и рыхлые отложения, почвы, зола углей, растений и биоты):

• Определение 17-25 примесей в геологических образцах по способу вдувания-просыпки с пределами обнаружения 0,02-10 ppm.

• Определение фтора по молекулярной полосе СaF.

• Сцинтилляционное определение валовых содержаний золота, серебра, платины и палладия с пределами обнаружения 0,004; 0,02; 0,1 и 0,003 ppm соответственно и оценка их размеров (2 ? > 30 мкм).

Технические характеристики:
установка "Поток" для введения порошков в дуговой разряд по способу вдувания-просыпки с электродуговым генератором "Шаровая молния" и модуль связи с компьютером. Дуга переменного или постоянного тока 5 ? 40 А, дуга со ступенчатым током заданной полярности; стабильность тока 1%.

Дифракционный спектрограф ДФС-458. Спектральный диапазон 197–780 нм. Разрешение 0,52 нм/мм. Регистрация спектра фотодиодными линейками МАЭС (количество измерительных каналов 28 380). Время экспозиции одного считывания 100-10000 мс.

Дифракционный спектрограф со скрещенной дисперсией СТЭ-1 и кассета с 4-мя фотодиодными линейками МАЭС для времени экспозиции одного считывания 1-4 мс; количество измерительных каналов 10 320.

Программное обеспечение АТОМ управляет работой спектрального комплекса, регистрирует полный спектр без "мёртвых" зон в интегральном и сцинтилляционном (счёт импульсов) режимах, выполняет измерение интенсивности линий элементов и фона рядом с ними, строит одномерные градуировочные зависимости

Использование в программе АРДЭС при обработке спектральной информации метода главных компонент для определения структуры и размера обучающей выборки спектральных данных, методов множественной линейной регрессии и проекций на латентные структуры при построении n-мерных градуировочных зависимостей обеспечивает учёт влияния матричных и спектральных помех.